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| 2种易氧化量子点的XPS价态分析技术 | |
| 作者姓名： | 闫曙光 吕弋 宋红杰 |
| 摘 要： | X-射线光电子能谱(XPS)作为样品表面分析的重要手段,在易氧化样品分析方面具有特殊的优势.以合成的黑磷量子点和二硫化钨量子点为样品,采用常规进样、Ar离子束刻蚀结合常规进样、手套箱与惰性气体保护样品传输器联合进样等方式进行XPS测试.研究了2种易氧化量子点在进行XPS测试时3种进样方式的具体操作、要求、优势和测试结果... |
| 关 键 词： | X-射线光电子能谱 易氧化量子点 惰性气体传输器 离子刻蚀 |
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