|
|||||
|
|
| 封面故事:观察表面结构中单个原子的成像方法 | |
| 摘 要： | <正>能够在一个一般性表面结构中识别所有单个原子(包括缺陷)的成像方法,对于材料分析将是非常有用的工具。Ondrej Krivanek及其同事已开发出这样一种方法。他们在一个为低电压操作进行了优化的经过像差校正的扫描透射电子显微镜中采用了环形暗场(ADF)成像。该方法能以原子分辨率成像,还 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||
|
||||||||
|
||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |