产品表面缺陷检测的变步长采样机制研究

为了实现对产品表面缺陷的快速自动识别,提出在先验已知各目标区域的最小待识别结构尺寸及空间畸变的条件下,采用最小二乘法拟合得出采样步长变化的函数关系曲面及其曲面对应的公式表达。将各待检区域的因变量带入公式计算可得到采样步长,在满足采样定理的前提下,基于变步长采样机制获取标准图像序列库;其次,通过LTP算法寻找被检产品的图像在标准库中的最优位置;最后,通过相关度判别各区域有无缺陷。实验表明在实际工业检测应用中,工程技术人员可以利用采样步长与最小待识别结构尺寸及空间畸变的函数关系确定采样步长,建立变步长采样机制。