| 数字集成电路参数测试仪的设计 |
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| 引用本文： | 何碧贵,何世彪.数字集成电路参数测试仪的设计[J].重庆电子工程职业学院学报,2011(3):155-156. |
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| 作者姓名： | 何碧贵 何世彪 |
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| 作者单位： | 重庆大学通信工程学院;重庆电子工程职业学院 |
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| 摘 要： | 针对现有集成电路测试设备结构复杂,功能单一的缺点,本文利用FPGA核心板、D/A模块、A/D模块、电流转换电压电路等器件,采用SOPC技术,设计了一个中小规模通用数字集成电路测试系统,在逻辑功能测试的基础上,实现了74系列中小规模数字集成电路直流性能参数的测试。通过实验,将测试结果与标准的反相器参数进行比较,数据结果一致。表明参数测试仪符合设计要求,设计方案具有一定的参考价值。
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| 关 键 词： | 集成电路 参数 测试 FPGA |
The Design of Digital IC Parameters Tester |
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| HE Bigui,HE Shibiao.The Design of Digital IC Parameters Tester[J].Journal of Chongqing Vocational & Technical Institute,2011(3):155-156. |
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| Authors: | HE Bigui HE Shibiao |
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| Institution: | 1(1.College of Communication Engineering,Chongqing University,Chongqing 400044,China; 2.Chongqing College of Electronic Engineering,Chongqing 401331,China) |
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| Abstract: | |
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