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| X射线荧光光谱分析法在玻璃材料测定中的应用 | |
| 作者单位： | ;1.上海交通大学分析测试中心 |
| 摘 要： | 通过X射线荧光光谱分析法(XRF)可简单、快速地分析玻璃样品中SiO_2、Na_2O、CaO、MgO、Al_2O_3、K_2O、Fe_2O_3等成分组成及含量。用粉末压片法制备出了满足XRF测量的分析试样,用岛津公司XRF-1800顺序扫描型X射线荧光光谱仪对F99UU(92)间的元素进行全程扫描,用PCXRF无标分析软件实现了对玻璃样品中元素组成及含量的分析。结果表明,该方法可进行无损分析,制样简单、分析速度快、可以同时对材料中的多种组分进行快速准确地测定,半定量结果达到了近似定量的程度。 |
| 关 键 词： | X射线荧光光谱法 无标分析 玻璃材料 |
Application of X Ray Fluorescence Spectrometer in Determination of Glass Materials |
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