摘 要: | 对2个损坏后又经过膜替换的离子色谱自循环再生阴离子电抑制器(ASRS-II、ASRS-ULTRA II,4 mm)进行了性能测试。测试内容包括基线噪音、进样重复性、稳定性、抑制容量、柱效、响应值等具体性能,并将测试结果与正常使用的离子色谱自循环再生阴离子电抑制器的性能测试结果进行比较。初步结果表明,2个膜替换的离子色谱自循环再生阴离子电抑制器性能虽然稍有差别,但在相同的测试条件下,测得的被测离子的峰高、峰面积等参数都和正常使用的抑制器相差较小,各测试结果显示的柱效也不低于正常使用的抑制器,灵敏度和柱效都达到了分析实验应有的基本要求,充分说明了损坏抑制器的修复效果良好。
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