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Ga2O3/ITO/Ga2O3深紫外透明导电膜的研究
引用本文:刘建军,闫金良,石亮,李爱丽. Ga2O3/ITO/Ga2O3深紫外透明导电膜的研究[J]. 职教论坛, 2012, 25(12)
作者姓名:刘建军  闫金良  石亮  李爱丽
作者单位:鲁东大学,物理学院,山东,烟台,264025
基金项目:鲁东大学创新团队建设项目基金
摘    要:采用常压烧结方法制备了Ga2O3陶瓷靶,用X射线衍射仪、金相显微镜对Ga2O3陶瓷靶的结构和形貌进行了研究.用射频磁控溅射Ga2O3陶瓷靶材和直流磁控溅射ITO(锡铟氧化物)靶材分别制备了Ga2O3薄膜、Ga2O3/ITO/Ga2O3膜,用紫外-可见分光光度计、四探针测试仪对Ga2O3薄膜、Ga2O3/ITO/Ga2O3膜的光学透过率和电阻率进行了表征. Ga2O3薄膜不导电,光学带隙5.1eV;Ga2O3(45 nm)/ITO(14 nm)/ Ga2O3(45 nm)膜在300 nm处的光学透过率71.5%,280 nm处60.6%,电阻率1.48×10-2Ω.cm.ITO层的厚度影响Ga2O3/ITO/ Ga2O3膜的光电性质.

关 键 词:Ga2O3陶瓷靶材  深紫外透明导电膜  Ga2O3/ITO/Ga2O3膜  光电性质

Studies on Deep Ultraviolet Transparent Conductive Ga2O3/ITO/Ga2O3 Films
Abstract:
Keywords:
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