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| 扫描探针显微镜外接扩展Ⅰ/Ⅴ装置的设计与实践 | |
| 引用本文： | 崔玉明,孟中.扫描探针显微镜外接扩展Ⅰ/Ⅴ装置的设计与实践[J].实验技术与管理,2009,26(7). |
| 作者姓名： | 崔玉明 孟中 |
| 作者单位： | 1. 吉林大学,化学学院,吉林,长春,130012 2. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,航测部,吉林,长春,130031 |
| 摘 要： | 近些年来,各种功能材料纳米区域的伏安特性得到越来越多的关注,并已有大量相关研究成果发布.这些科研的实验工作大多由扫描探针显微镜来完成,然而商用仪器的技术指标固定,提供的直流电压和电流的测量范围有限.通过对日本精工SPA-400扫描探针显微镜的Ⅰ/Ⅴ装置进行基于单片机系统的扩展二次开发,结合自行开发的软件包,大大提高了原系统的Ⅰ/Ⅴ测量范围,可适合多种晶体样本的测量.该设计避免了重新投入造成的成本浪费,值得推广采用. |
| 关 键 词： | 扫描探针 显微镜 伏安特性 测量装置 |
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