透射电镜带轴系列倾转的数学模型设计

透射电镜(TEM)是一个集多功能于一体的微结构表征工具,对分析材料的形貌、结构和性能意义较大。TEM采集的数据是三维物体在二维空间的投影图,想要得到全面准确的信息,需将样品倾转至特定晶带轴方向。晶带轴系列倾转的操作主要依赖菊池极的位置,然而由于不同晶带轴之间的角度相差较大,在荧光屏上难以观测到多个不同菊池极,且倾转过程中样品位置会发生大幅度偏移,需在衍射和成像模式之间反复多次切换方可获得理想的结果。为降低带轴系列倾转的操作难度,该文建立数学模型,通过测量菊池线与水平方向的夹角,可简单快速地获得目标晶带轴所需的倾转角度。该工作为高校充分利用TEM检测晶体微观结构、确定取向关系提供具体的理论和实验指导。