恒电流法制备ZnO薄膜及其光学性能研究

本文开发了一个新的综合实验,采用恒电流法制备了ZnO薄膜,利用X射线衍射分析了ZnO薄膜的晶粒尺寸等结构特征,紫外—可见光区的透过率分析ZnO薄膜的光学带隙,研究了Zn(NO3)2反应物浓度对ZnO薄膜的影响,探讨了将其用于学生实验的可行性。