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杂志ISSN号
电子元器件的老化测试及最新设备浅述
作者姓名:
张大为
作者单位:
中国电子科技集团公司第十四研究所
摘 要:
大多数电子产品的故障率随时间变化的曲线呈浴盆曲线。工业界广泛应用老化测试来加速老化以剔除出现早期故障的产品并确保新电子产品设计的长期可靠性。本文对电子元器件老化测试的种类,常见问题及常用设备进行了介绍和讨论,着重介绍了目前国际上常用的两种老化室的软件和硬件系统,并分析探讨了这一领域亟需研究和解决的重要课题。
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