首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

基于专利信息分析的技术生命周期判断方法
引用本文:李春燕.基于专利信息分析的技术生命周期判断方法[J].现代情报,2012,32(2):98-101.
作者姓名:李春燕
作者单位:江苏省科学技术情报研究所,江苏 南京 210042
摘    要:本文从专利信息特征出发研究技术生命周期的判断方法,归纳总结出了5种典型方法,分别为:S曲线法、专利指标法、相对增长率法、技术生命周期图法、TCT计算法。论文给出了具体计算公式及详细的判断方法。最后对5种判断方法进行评价,指出各自的适用条件。论文对技术生命周期判断方法的归纳全面而实用,为研究者根据实际情况灵活选用不同判断方法提供了理论参考。

关 键 词:技术生命周期  专利分析  专利指标  S曲线

The Distinguishing Methods of Technology Life Cycle Based on Patent Analysis
Authors:Li Chunyan
Institution:Institute of Scientific and Technical Information of Jiangsu,Nanjing 210042,China
Abstract:This article studied the distinguishing methods of technology life cycle from the information characteristic of patent.It summarized five typical methods,which were s-curve,patent indicators,relative growth rates,patent technology life cycle diagram,TCT.The article gave specific calculation formulas and distinguishing methods.Lastly it evaluated the five methods and also pointed out their applicable conditions.The distinguishing methods of technology life cycle the article summarized were comprehensive and practical.The article provided a theoretical reference for studiers of choosing proper distinguishing methods according to actual situation.
Keywords:technology life cycle  patent analysis  patent indicators  s curve
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《现代情报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《现代情报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号