纳米材料的现行测量技术 |
| |
引用本文: | 郭冬勇,赵德国.纳米材料的现行测量技术[J].安徽教育学院学报,2002,20(6):49-51. |
| |
作者姓名: | 郭冬勇 赵德国 |
| |
作者单位: | 1. 安徽教育学院化学系,安徽,合肥,230061 2. 安徽省霍邱长集中学,安徽,霍邱,237400 |
| |
摘 要: | 纳米科技日益发展的直接结果是纳米材料的广泛应用。而这些又都离不开精密而先进的测量技术。本文按纳米测量技术的发展顺序介绍之后,重点介绍了STM,AFM的工作原理及使用范围,同时本文还对纳米科技的新近发展做了展望。
|
关 键 词: | 纳米材料 测量技术 扫描隧道显微镜 STM 原子力显微镜 AFM 空间分辨率 |
文章编号: | 1001-5116(2002)06-0049-03 |
修稿时间: | 2001年6月5日 |
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录! |
|