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放大电路幅频特性测试系统设计
作者单位:
;1.合肥工业大学电子科学与应用物理学院
摘 要:
设计了一种基于嵌入式处理器控制的放大电路幅频特性测试系统。采用DDS技术搭配一款模拟乘法器为待测放大电路提供频率、幅值、波形可调的输入信号。信号频率步长为0.04Hz,输出范围为0.04Hz~12.5MHz。待测放大电路输出信号首先通过精密全波整流滤波电路进行处理,然后经嵌入式处理器内置ADC采样处理,采样精度最高可达0.8mV,以实现交流信号幅值测量和幅频特性曲线的LCD显示。本系统数字集成高,成本低,且操作简单,在高校电子信息类专业的教学中可以得到广泛的应用。
关 键 词:
幅频特性
嵌入式处理器
DDS
全波整流
Design of testing system of amplitude-frequency characteristics
Abstract:
Keywords:
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