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半导体热敏特性研究实验装置的改进
引用本文:李英. 半导体热敏特性研究实验装置的改进[J]. 商洛学院学报, 2004, 18(2): 22-24
作者姓名:李英
作者单位:商洛师范专科学校量子光学与量子信息研究所、物理系,陕西,商洛,726000
摘    要:运用电量热器、万能电桥等改进大学普通物理实验:“半导体热敏特性研究”的实验装置,使得实验装置简化,便于实际操作,扩大了温度变化范围,正确展示了半导体热敏特性.

关 键 词:半导体热敏电阻  非线性电阻  热媒质  实验误差
文章编号:1008-3030(2004)02-0022-03
修稿时间:2004-02-10

Improvement of Experimentation Sets of "Studying Characteristics of Semiconductor Hot- susceptive Resistance"
Li Ying. Improvement of Experimentation Sets of "Studying Characteristics of Semiconductor Hot- susceptive Resistance"[J]. Journal of Shangluo University, 2004, 18(2): 22-24
Authors:Li Ying
Abstract:
Keywords:Semiconductor hot-susceptive resistance  Non-linear resistance  Heat medium  Experiment error
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