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基于FPGA的ADC指标测量及测试系统
引用本文:史可显.基于FPGA的ADC指标测量及测试系统[J].黑龙江科技信息,2010(22):86-86.
作者姓名:史可显
作者单位:上海交通大学,上海,200000
摘    要:本文由提出混合信号集成电路中ADC部分的指标测量测试问题开始,提出了一种基于可编程逻辑门电路的测试系统解决方案,并给出了系统框图。介绍了测试系统各部分的组成,然后又列举了ADC的各项重要的动态和静态指标,最后给出了计算各指标的具体算法。

关 键 词:ADC  测试  FPGA  SNR  SINAD  DNL  INL
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