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扫描探针显微镜对纳米尺度铁电畴极化反转的研究
引用本文:赵素玲.扫描探针显微镜对纳米尺度铁电畴极化反转的研究[J].实验室研究与探索,2012,31(4):16-18,71.
作者姓名:赵素玲
作者单位:武汉理工大学材料研究与测试中心,材料复合新技术国家重点实验室,湖北武汉430070
基金项目:新世纪优秀人才支持计划项目
摘    要:利用扫描探针显微镜(SPM)的压电响应模式(PFM)和电场力响应模式(EFM)对PbTiO3/Pb(Zr0.3Ti0.7)O3/PbTiO3(PT/PZT/PT)夹心结构铁电薄膜的自发极化与纳米尺度电畴反转行为进行了研究。SPM的PFM对薄膜电畴的极化反转研究表明,在相同的有限电压下,薄膜的电畴因不同结构而不能全部反转而取向一致;同时,不对称电极产生的内建电压(场)会导致不同方向上极化反转电压的不同。SPM的EFM不宜用来研究铁电薄膜的自发极化电畴结构,但对电畴的取向极化有较高的区分度,适于研究电畴的取向极化。经正电压极化后,极化的区域呈高电势的亮区;经负电压极化后,表现为低电势的暗亮度区域。

关 键 词:扫描探针显微镜  铁电畴  电畴极化反转

Investigation of Nanoscale Ferroelectric Domains Switching by Multimode Scanning Probe Microscopy
ZHAO Su-ling.Investigation of Nanoscale Ferroelectric Domains Switching by Multimode Scanning Probe Microscopy[J].Laboratory Research and Exploration,2012,31(4):16-18,71.
Authors:ZHAO Su-ling
Institution:ZHAO Su-ling(Center for Material Research and Testing,State Key Laboratory of Advanced Technology for Materials Synthesis and Processing,Wuhan University of Technology,Wuhan 430070,China)
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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