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基于PXI总线自动测试系统的设计
引用本文:张莹.基于PXI总线自动测试系统的设计[J].中国科技信息,2015(1):70-71.
作者姓名:张莹
作者单位:洛阳电光设备研究所测试部
摘    要:本文明辨了电子测试架构下的仪器进展、概要的技术特性、表征着的进展走向。PXI特性的总线,可被安设在自动测试这一范畴的系统以内。PXI架构的总线测试,整合了微机技术、自动的测试路径。依循误差修正特有的总指引,预设了高层级的测定精度、带有实时特性的测量、自动管控中的测量。虚拟架构下的仪器设定,用于平日以内的测试之中。PXI架构中的自动测试,应当预设最优的设计路径,促动测试成效的提升,提高原初的检测精准度。

关 键 词:自动测试  实时特性  误差修正  电子测试  微机技术  测定精度  技术特性  电子产品  零槽控制器  硬件层
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