基于PXI总线自动测试系统的设计 |
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引用本文: | 张莹.基于PXI总线自动测试系统的设计[J].中国科技信息,2015(1):70-71. |
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作者姓名: | 张莹 |
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作者单位: | 洛阳电光设备研究所测试部 |
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摘 要: | 本文明辨了电子测试架构下的仪器进展、概要的技术特性、表征着的进展走向。PXI特性的总线,可被安设在自动测试这一范畴的系统以内。PXI架构的总线测试,整合了微机技术、自动的测试路径。依循误差修正特有的总指引,预设了高层级的测定精度、带有实时特性的测量、自动管控中的测量。虚拟架构下的仪器设定,用于平日以内的测试之中。PXI架构中的自动测试,应当预设最优的设计路径,促动测试成效的提升,提高原初的检测精准度。
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关 键 词: | 自动测试 实时特性 误差修正 电子测试 微机技术 测定精度 技术特性 电子产品 零槽控制器 硬件层 |
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