高密度视电阻率剖面测试技术探析 |
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引用本文: | 李天亮.高密度视电阻率剖面测试技术探析[J].中国科技纵横,2011(6):208-208,229. |
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作者姓名: | 李天亮 |
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作者单位: | 重庆一三六地质队,重庆401147 |
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摘 要: | 高密度视电阻率法是采用密集的电极排列进行纵横向连续数据采集,可获得丰富的地质信息。本文采用高黻视电阻率剖面测试技术,结合地质钻孔详细查明并分析评价区域内地层情况及可能存在的地质构造、破碎带及基岩起伏状况等,为下一步的工程设计提供参考依据。
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关 键 词: | 高密度视电阻率 地质勘探 |
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