衬底温度对SiCN膜生长的影响 |
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作者姓名: | 马紫微 |
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作者单位: | 运城学院,物理与电子工程系,山西,运城,044000 |
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摘 要: | 分别在不同的衬底温度下制备了SiCN薄膜,首先用红外吸收谱(IR)研究了薄膜中各元素间的成键情况,然后用X射线衍射谱(XRD)分别研究了高温样品和低温样品的结构,得到了它们的结晶状况。利用这些研究得到了衬底温度对薄膜生长的影响。
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关 键 词: | SiCN膜 衬底温度 红外吸收谱 XRD |
文章编号: | 1008-8008(2005)05-0040-02 |
收稿时间: | 2005-09-28 |
修稿时间: | 2005-09-28 |
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