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衬底温度对SiCN膜生长的影响
作者姓名:马紫微
作者单位:运城学院,物理与电子工程系,山西,运城,044000
摘    要:分别在不同的衬底温度下制备了SiCN薄膜,首先用红外吸收谱(IR)研究了薄膜中各元素间的成键情况,然后用X射线衍射谱(XRD)分别研究了高温样品和低温样品的结构,得到了它们的结晶状况。利用这些研究得到了衬底温度对薄膜生长的影响。

关 键 词:SiCN膜 衬底温度 红外吸收谱 XRD
文章编号:1008-8008(2005)05-0040-02
收稿时间:2005-09-28
修稿时间:2005-09-28
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