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Wafer-level SLID bonding for MEMS encapsulation
Authors:H.  Xu T. Suni  V.  Vuorinen J. Li  H.  Heikkinen P. Monnoyer  M.  Paulasto-Krockel
Abstract:(MEMS)bondingDefects Micro electronic mechanical systemSolid-liquid interdiffusion (SLID)Transient liquid-phase (TLP) bondingShear test Reliability
Keywords:(MEMS)bondingDefects Micro electronic mechanical systemSolid-liquid interdiffusion (SLID)Transient liquid-phase (TLP) bondingShear test Reliability
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