X射线衍射全谱拟合相定量分析新方法:Le Bail直接比对法

X射线衍射物相分析包括定性和定量分析。Rietveld全谱拟合法作为一种无标样定量方法正在取代传统的基于含量-强度方程的相定量法。然而,在用Rietveld法进行拟合时,因需要待测试样所有所含物相的晶体结构模型而使其应用受到限制。本文提出新的无标样定量分析法Le Bail直接比对法,该法仅仅需要晶胞参数和空间群信息,就能进行定量分析,这些数据都能从指标化中得到,扩展了全谱拟合定量分析的应用范围。结果与Rietveld结构精修相比较,相对误差在0.03%。