首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于技术功能指标的技术生命周期判断方法研究
作者单位:中国社会科学院经济研究所 北京 100836
摘    要:

关 键 词:技术功能指标  技术生命周期  多指标测度体系  CRT技术  TFT-LCD技术
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号