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| Multisim在电子测量技术中最坏情况分析 | |
| 引用本文： | 王建平,张文蔚,郑昊.Multisim在电子测量技术中最坏情况分析[J].教育教学论坛,2013(10):97-98. |
| 作者姓名： | 王建平 张文蔚 郑昊 |
| 作者单位： | 上海工程技术大学高职学院,上海,200437 |
| 摘 要： | 最坏情况分析(Worst Case Analysis)是容差分析的一种主要技术。这是一种电路可靠性分析设计技术,用来评估电路中各器件参数同时发生最坏情况变化时的电路性能,用以保证电路在整个寿命周期内都能够可靠工作。WCA是一种全面系统分析电路可靠性的方法,在电子可靠性设计中将占据重要地位。 |
| 关 键 词： | Multisim WCA 电子测量技术 |
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