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X射线对硅元素的测定和图谱分析
作者单位:
;1.内蒙古新闻广电局839台;2.内蒙古自治区包头市第八中学
摘 要:
用X射线对硅元素进行测定,通过衍射1图谱分析及数据处理,再根据峰值测出2θ值。计算出对应的d值,与相应的理论值进行对比。
关 键 词:
X射线衍射
硅元素
图谱分析
2θ
d值
X-ray for Determination of Silicon and Spectrum Analysis
Abstract:
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