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粒子成像测速——非介入式全场技术
引用本文:刘玥,梁忠生,鲍锋.粒子成像测速——非介入式全场技术[J].中国科技信息,2010(13):37-40,31.
作者姓名:刘玥  梁忠生  鲍锋
作者单位:厦门大学物理机电学院航空系,361005
摘    要:粒子成像测速(PIV)作为一种新的流场测试技术,不同于传统的热线、探针、雷达等测速方法,是能够在不扰乱流场的情况下(非介入),迅速地捕捉到整个流场速度信息的测量技术。它的出现为复杂流场的研究提供了更直接有效的方法。本文介绍了粒子成像测速方法的工作原理,核心技术,讨论了PIV技术的发展趋势。

关 键 词:粒子成像测速(PIV)  全场技术  光学测量
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