|
|||||
|
|
| 电子元器件失效分析技术 | |
| 作者姓名： | 董均海 |
| 作者单位： | 吉林省电子信息产品监督检验研究院,长春,130000 |
| 摘 要： | 本文扼要地介绍了电子元器件失效分析所采用的一些最新枝术和仪器设备。 |
| 关 键 词： | 电子元器件 失效分析 |
| 文章编号： | 1008-0821（2006）04-0207-02 |
| 收稿时间： | 2006-02-05 |
| 修稿时间： | 2006-02-05 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |